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Beam Imaging 電子束觀(guān)察系統 真空組件

簡(jiǎn)要描述:Beam Imaging 電子束觀(guān)察系統 真空組件
聯(lián)系張經(jīng)理:I872I868549(微信同號)

  • 產(chǎn)品型號:BOS-75-IW
  • 廠(chǎng)商性質(zhì):代理商
  • 更新時(shí)間:2024-12-13
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:451
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Beam Imaging 電子束觀(guān)察系統 真空組件

Beam Imaging Solutions (BIS) 推出了 90 度 BOS,它允許對與成像平面成 90 度的光束進(jìn)行遠程成像。與 BOS-18-IW 和 BOS-40-IW 一樣,BOS-75-IW 可以連接到線(xiàn)性運動(dòng)饋入件,并放置在光束內和外,從而在真空室深處進(jìn)行遠程成像。。成像是通過(guò)將標準 BOS MCP/熒光屏堆棧安裝到金屬外殼上來(lái)完成的,金屬外殼具有相對于成像平面成 90 度安裝的鏡子。外殼采用楔形設計,以最大限度地減小成像儀的物理尺寸,并具有連接到線(xiàn)性運動(dòng)饋通的便捷點(diǎn)。電氣連接是通過(guò)將柔性電氣絕緣電線(xiàn)連接到電氣饋通件的楔塊上的連接塊來(lái)實(shí)現的。在標準形式中,BOS-IW 裝置可與 MCP/熒光粉組件一起安裝在帶有電氣連接塊的楔形外殼上。還提供 BOS-IW 套件,包括帶有電氣饋入裝置、視口、線(xiàn)性運動(dòng)饋入裝置和攝像系統的 BOS-IW 裝置。


成像區域

直徑 75mm

MCP(標準)

3.410 英寸直徑 (BOS-75-IW),25 微米通道直徑,檢測或成像級,75 毫米有效面積,32 微米間距,8° 偏置角,40:1 縱橫比(標準,BOS-75-IW),最小增益:1 x 10^4(單板,標準)1000V > 107(V 形,OPT-01),2000V

熒光屏(標準)

P-43 帶鋁涂層。P-43 峰值波長(cháng):λ= 545 nm。

建筑材料

外殼:鋁(標準)304 不銹鋼是可選的,電氣連接塊:ULTEM 1000,鏡子:125 毫米(寬)x 150 毫米(長(cháng))x 3 毫米(厚),每英寸 2 個(gè)波的平面度,B270 玻璃,指數 = 1.523

電源要求

0 – + 1000V,1mA 單 MCP(標準),0 – + 2000V,1mA 雙 MCP(選件 01),0 – + 5000V,1 mA 熒光屏

光束能量范圍

1 eV 至 50 keV 以上

束流范圍

< 10 μA(帶可選的光束衰減格柵)

真空

運行 MCP 需要 1 x 10-6 Torr 或更高溫度,兼容 UHV,最高烘烤溫度 300 C


Beam Imaging 電子束觀(guān)察系統 真空組件

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