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Sumix Corporation WIZ-QS-110白光干涉儀

簡(jiǎn)要描述：Sumix Corporation WIZ-QS-110白光干涉儀

上海皕赫李經(jīng)理VX：bihec3018
電：I73I7355928

  • 產(chǎn)品型號：
  • 廠(chǎng)商性質(zhì)：代理商
  • 更新時(shí)間：2024-12-12
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量：731

詳細介紹

品牌其他品牌產(chǎn)地類(lèi)別進(jìn)口
應用領(lǐng)域能源,電子/電池,航空航天,電氣,綜合

Sumix Corporation WIZ-QS-110白光干涉儀

WIZ-QS-110 是一款自動(dòng)干涉儀，用于檢測單光纖連接器、套圈和裸光纖。WIZ-QS-110 被設計為在大批量生產(chǎn)環(huán)境中對光纖連接器進(jìn)行干涉檢測的基本解決方案，在這些環(huán)境中，速度、簡(jiǎn)單性和精度是最重要的。白光測量算法和無(wú)需頻繁校準的精確對準燈具使其在同類(lèi)產(chǎn)品中的競爭中脫穎而出。
注：WIZ-QS-110是WIZ-QS+干涉儀的升級型號，保留了其所有優(yōu)點(diǎn)。

1：適合批量生產(chǎn)

通過(guò)輕松插入套圈/連接器和夾具處理來(lái)節省時(shí)間。

2：自動(dòng)對焦

將操作員的操作降至很低，只需單擊一下。

3：交互式 2D 和 3D 表面輪廓

旋轉、縮放、縮放圖像以探索小至 2.5 μm 的表面細節。

4：快速測量

使用 USB 3.0 SuperSpeed 連接，最快可在 1.3 秒內測量單根光纖連接器和套圈。

5：一鍵操作

節省在快速模式下測試大量連接器的時(shí)間。

6：行業(yè)的 MaxInspect™ 自動(dòng)檢測軟件

測量曲率半徑、頂點(diǎn)偏移、光纖高度、纖芯傾角等。

7：工廠(chǎng)精確對準的夾具

無(wú)需在每次使用前或在燈具之間更換時(shí)校準燈具。

8：應用范圍廣

檢查單光纖連接器、套圈、裸光纖、Arinc、MS 終端、PC 和 APC。

9：超過(guò) 1000 微米的光纖高度掃描范圍

準確檢測具有較大不連續性和特殊連接器的套圈表面。

WIZ-QS-110干涉測量系統包括：

  • WIZ-QS-110干涉儀

  • 用于設備驗證的光學(xué)平面標準

  • USB 3.0 數據線(xiàn)

  • AC適配器

  • 箱

  • MaxInspect™ 軟件許可證

Sumix Corporation WIZ-QS-110白光干涉儀

Sumix WIZ-QS-110規格

視場(chǎng)角：1.2 x 0.9 毫米

光學(xué)分辨率：2.5微米

適合連接器/套圈：ST、FC、SC、MU、LC、E2000™、Arinc、MS termini – PC 和 APC，裸光纖

測量模式：相移和白光
掃描和計算速度：1.3 秒*
*64 MHz，標準單光纖連接器。
顯微鏡模式：不是
最大圖像尺寸：2590 × 1940 像素
放大：460×
電源：外部 USB 3.0 電纜、12 V DC 電源適配器
重量：3.9公斤（8.6磅）
尺寸（高 × 寬 × 長(cháng)）：150 × 120 × 90 毫米（5.9 × 4.72 × 3.5 英寸）
重點(diǎn)：自動(dòng)對焦
對焦范圍：±1 毫米
測量范圍：ROC （mm）：1 到平坦
頂點(diǎn)偏移 （μm）：0 至 2000
纖維高度* （μm）：超過(guò) 1000**
角度測量 – 全范圍（度）：0 至 28
*** * 與掃描物體的高點(diǎn)和低點(diǎn)的差異。
**<默認提供 100 μm。 >100 μm – 用于特殊連接器/任務(wù)（需要軟件調整）。
*** 常規燈具 – 0， 8， 9度。定制夾具 – 0 -28 度。
重復性 C.F.*：
* 值是通過(guò)連續 30 次測量計算得出的，測量值之間沒(méi)有連接器交互（連接器固定），代表一個(gè) sigma 值。
ROC：0.2 %
纖維高度：0.4 nm
角度：0.0002 度
頂點(diǎn)偏移：0.02 μm
重復性 C.R.*：
* 值是通過(guò)連續 30 次測量計算得出的，在測量之間移除和插入連接器（連接器重新加載），代表一個(gè)西格瑪值。
ROC：0.2 %
纖維高度：0.5 nm
角度：0.007 度
頂點(diǎn)偏移：1.1 μm
顯微鏡模式：不是





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